脉冲I-V与脉冲C-V半导体参数自动测量装置
  • 公开号
    CN202093133U
  • 申请号
    CN201020676494.2.0
  • 专利类型
    实用新型
  • 申请日期
    2010-12-23
  • 授权日期
    2011-12-28
  • IPC主分类号
    测量;测试
摘 要
本实用新型公开了一种脉冲 I-V 与脉冲 C-V 半导体参数自动测量装置,包括脉冲信号发生模块、电流转换模块、数据采集模块,还包括用 GPIB 接口分别和脉冲信号发生模块、电流转换模块、数据采集模块相连接的计算机控制模块。本实用新型造价便宜,测量方便快速,并能快速保存测量数据,整个实验过程自动进行,数据自动处理并直接在屏幕上实现 I-V 、 C-V 特性曲线的绘制,提高测试效率。
当前申请(专利权)人
西交利物浦大学 | 西安交通大学 | 西安交通大学苏州研究院
发明人
魏小莽 | 赵策洲 | 周云龙
技术功效
[0013]1.和由脉冲发生器与示波器等仪器搭建的测试电路相比,本实用新型的测量装置用计算机屏幕代替示波器来显示信号波形节省了测量成本;  [0014]2.本实用新型通过数据采集模块将测量数据传送至计算机控制模块,可通过屏幕实时显示测量结果与信号波形,方便使用者观察;  [0015]3.通过将脉冲I-V与脉冲C-V测试集合到了一个装置中,可以简化人为搭建两套测试系统的步骤,节约测试时间,提高测试效率;  [0016]4.通过计算机控制模块可以同时设置整套装置里所有模块的测量参数,节省了大量人力操作时间,提高了测试效率与测试精度;  [0017]5.通过计算机控制模块可以自动处理实验数据并保存结果,加快测试速度。